世界農化網中文網報導： 近日， 加拿大國家光源中心(Canadian Light Source， CLS)和薩斯喀徹爾大學的研究人員合作發佈了一項新的技術來監測小麥的耐旱性。
Chithra Karunakaran和Karen Tanino的科研團隊開發了一種簡單的無損檢測方法， 在篩選耐旱小麥品種時， 可以在一天內篩選數百個小麥葉片樣本， 大大減少了傳統育種過程中的時間和成本。 他們的研究結果發表在11月份的Physiologia Plantarum上。
研究簡介：
以抗旱的Stettler小麥與易受乾旱影響的Superb小麥作為研究材料， 以旗葉上的蠟質層作為檢測物件， 研究人員比較了兩種試驗材料旗葉蠟質層植物心態特徵和化學特徵的區別。 （旗葉是植物發育過程中萌發的最後一片葉子， 對於獲得高產量是至關重要的）
“農業界知道葉片蠟質層在保存水分上扮演著重要的角色， 並且對於病害也起著物理屏障的作用， 但是此前我們不瞭解這些防禦是怎麼在分子水準上發生的。
使用CLS的強光源， Karunakaran 和他的團隊首次發現了葉片中的微量元素和大量元素與它們的抗旱性有關。 研究發現在抗旱品種中含有更高水準的鋅元素。 這些結果可能對未來的育種產生重大的影響， 並且也可能提高鋅元素在肥料中的作用。
現在研究人員已經構建了相關的實驗方案， 該研究有望延伸到其他新的作物品種中。