來自印度和日本的科學家們開發了一種使用石墨烯基電晶體檢測致病基因的新方法。 石墨烯場效應電晶體（GFETs）能夠通過DNA雜交檢測出致病基因：當DNA探針與與之互補的靶DNA結合時， 電晶體的導電性改變。
來自日本國家材料科學研究所的Nobutaka Hanagata及其同事對石墨烯感測器進行了改進， 他們通過乾燥過程將DNA探針結合在電晶體上， 這樣就不需要此前常用的昂貴而費時的偶聯劑核苷酸序列。
研究團隊設計的GFETs由沉積在矽基底上的含鈦－金電極的石墨烯組成， 然後將DNA探針鹽溶液滴加在上面， 並使之乾燥。 他們發現這種乾燥過程可以直接將DNA探針固定在石墨烯表面，
通過這些過程， GFETs成功工作， 研究人員發現當探針與靶標結合時， 感測器導電能力發生了改變， 這意味著存在致病靶標基因， 而使用其他非互補基因時， 感測器導電能力無變化。
DNA雜交可以通過給靶標DNA結合上螢光分子進行檢測， 這種情況下一旦發生雜交， 感測器就會發光。 但是這種方法涉及的標記過程複雜， 同時還需要昂貴的檢測器檢測螢光。 而GFERs則是一個檢測致病基因更便宜、更容易操作且更敏感的選擇。