在非金屬礦物和粉體材料加工、產品銷售及下游應用過程中， 其性能檢測是必不可少的環節， 如採用鐳射細微性分析儀可檢測粉體產品細微性分佈情況， 採用掃描電子顯微鏡（SEM）觀察碳酸鈣晶體形貌等。 因此， 小編特意整理了常見粉體材料測試專案、設備型號及可測性能。
細微性分佈
鐳射細微性分析儀 丹東百特Bettersize3000plus 0.01-3500微米細微性分佈 納米細微性及Zeta分析儀 NanoZS+MPT2 納米細微性分佈測定 Zeta電位原子力顯微鏡（AFM）
原子力顯微鏡 Brukerdimensionicon 基本形貌、3D效果顯示 電學磁學力學熱學
粗糙度分析
透射電子顯微鏡（TEM）
透射電子顯微鏡 JEM2100FFEITecnaiG2F30TecnaiG2Spirit120KVTitanCubedThemisG2300Titan80-300JEM-2010FEITecnaiG220 TEM形貌觀察 HRTEM高分辨像EDS能譜元素定性定量分析
STEM掃描透射電子顯微圖像
EELS能量損失譜
SAED選區電子衍射
S/TEM、EDS三維重構
微分相位襯度STEM技術測量固有磁場和電場
全息技術
缺陷分析
結構測定
洛倫茲透鏡
掃描電子顯微鏡-SEM
EDS面掃
EDS形態學分析
EDS顆粒分析
EBSD振動拋光
EBSD測試
透射像（明場和暗場）
掃描隧道顯微鏡-STM
掃描隧道顯微鏡 Low-TemperatureUHV-STMSystem 原子級別高分辨表面形貌分析 表面電子結構表徵電鏡制樣
聚焦離子束（雙束） AurigaFIB 形貌觀察 元素定性定量分析晶體取向分析
原子序數襯度像
離子束加工與沉積
納米手操控（Omniprobe200）
3D成像（圖像、成分、晶體取向）
離子束鍍膜與刻蝕系統 Gatan682 碳膜（或鉻、金、鉑等） 離子減薄儀 RES101 透射/掃描電鏡樣品的減薄，
X射線衍射儀
最低12K， 最高1600℃變溫測試， 廣角、小角、掠入射、步進、慢掃、原位、織構等。
原位變溫X射線粉末衍射儀 日本理學D/max2550XRD-7000型布魯克D8AdvancePhilipsPW3040/60型帕納科XPertProMRD高分辯衍射儀 低溫XRD（12K） 高溫XRD（1600℃）小角散射
小角衍射
廣角
掠入射
慢掃
常規廣角
精修計算服務
物理吸附
比表面積和孔徑分析儀 麥克ASAP2020 BET 微孔分佈介孔分佈
化學吸附
全自動化學吸附儀 麥克AutoChem1II2920 程式升溫還原（TPR） 程式升溫脫附（TPD）程式升溫氧化（TPO）
程式升溫反應評價
TG、DSC
熱重、熱焓、比熱等測試， 可測-180℃到1600℃範圍內各項資料
DSC Netzsch， STA449F3MettlerDSC3Netzsch， DSC204F1Netzsch/BrukerTG209F3/Tensor27TAQ600Netzsch， 404F3 常規DSC測試 TG TG-DSC測試TG-DSC 氧化誘導期
TG-IR 比熱
導熱
測熱導率最低溫度可測到4.2K， 最高測到1100℃， 100℃以下可直接測出， 100℃以上需要通過測熱擴散係數和比熱後計算。
鐳射熱導儀 熱擴散係數
導熱測試儀 導熱係數
比熱測試儀 室溫-4.2K
動態熱機械分析-DMA
動態熱機械分析儀 （Netzsch）DMA242E 室溫～600℃傅裡葉紅外
可測普通紅外、ATR紅外、原位紅外和吡啶紅外等， 在室溫到900℃溫區內提供多種氣氛。
傅立葉轉換紅外光譜儀（帶原位反應池） Nicoletis50ThermofisherNicolet6700BrukerTensor27 衰減全反射ATR透射紅外KBr壓片透射紅外無需KBr壓片漫反射原位紅外吡啶紅外X射線光電子能譜儀XPS
X射線光電子能譜儀 PHI5000VersaprobeIIKratosAxisUltraDLDThermoScientificESCALAB250Xi 常規寬譜掃描 窄譜掃描紫外光電子能譜（UPS）
選區成像mapping
Ar離子刻蝕（不含采譜）
Ar團簇離子深度剖析（采譜另計）
Al/Mg雙陽極
原位高低溫（153~773K）
准原位高低溫（123~1073K）
角分辨XPS
AES（俄歇能譜）
REELS、ISS
元素分析
可以分析各種無機樣品、有機樣品、金屬樣品元素含量， 分析92號以前的全部元素。
電感耦合等離子原子發射光譜儀 ThermoiCAP-6000OPTIMA8000DV 元素含量全元素定量（同時測定55種元素） X射線螢光光譜儀（XRF） 島津XRF-1800型波長色散螢光光譜儀 定性 定量
全元素定量
紅外碳硫儀 力可CS344 C、S含量 紅外氮氧儀 力可TC400 N、O含量
原位拉曼光譜
測溫範圍：80-473K， 325514532633780nm波長都有。
拉曼光譜儀共焦顯微拉曼光譜儀 LabRAMHR800雷尼紹RiVia 普通掃譜（325nm）普通掃譜（532nm、785nm、633nm）高低溫測試(LINKAM)原位拉曼光譜測試（mapping+電化學工作站）大光斑掃描（DUOSCAN）變溫測試（80-473K） 紫外可見近紅外分光光度計 Cary5000島津UV360 紫外可見近紅外光譜液體樣品紫外吸收測試固體樣品透過率反射率測試極低溫力學性能
可測材料在液氦、液氮以及常溫下的力學性能。
電子萬能材料試驗機（多台、載荷等參數不同） 拉伸強度 室溫液氮
20K
4.2K
彎曲強度 室溫
液氮
20K
4.2K
斷裂韌性 室溫
液氮
液氦
壓縮強度 室溫
液氮
20K
4.2K
衝擊韌性 室溫
液氮
20K
4.2K
剪切強度 室溫
液氮
20K
4.2K
微機控萬能試驗機 CMT6104 三角彎曲變形、薄膜拉伸、拉伸強度 全自動電子萬能材料試驗機 ZwickZ100ZwickZ050 拉伸 常溫 100-400℃
衝擊試驗機 三思縱橫300JMTS-SANSZBC-300APMT-1200 衝擊韌性 室溫 室溫
液氮
20K
4.2K
疲勞試驗機 PLS100Instron8802 疲勞 室溫 液氦
液氮
硬度
維氏硬度計 HVS-30P
線膨脹測試（超大溫度範圍）
最低溫度可達4.2K， 最高溫度能到2800℃。
線膨脹測試儀 德國Linseis， L75耐馳DIL402C 線膨脹係數電池測試設備
研究型接觸角測量儀 DSA30 接觸角 表面張力測試儀 表面張力 水分測定儀 831KF 固體水分測定 液體水分測定全自動真密度分析儀 AccuPycII1340 真密度 全自動振實密度分析儀 GeoPyc1360 振實密度 手套箱 M.BRUN雙工位 手套箱機時 電化學工作站（VMP3） VMP3 EIS CV、充放電等
電化學工作站（Solartron） Solartron1470E EIS CV、充放電等
藍電測試儀 CT2001A 恒流/恒壓充放電 動力電池測試儀 S4000 電性能測試≤15A量程 電性能測試100A量程
電性能測試200A量程
電性能測試400A量程
電性能測試800A量程
振動試驗機 DC-300 ≤5Ah 5-10（包含）Ah
10-20（包含）Ah
機械衝擊試驗機 CL-50 ≤5Ah 5-10（包含）Ah
10-20（包含）Ah
電池高溫隔爆試驗機 DMS-9987 ≤5Ah 5-10（包含）Ah
10-20（包含）Ah
溫控型電池短路試驗機 DMS-WDL ≤5Ah 5-10（包含）Ah
10-20（包含）Ah
電池低氣壓模擬試驗機 DMS-9988 ≤5Ah 5-10（包含）Ah
10-20（包含）Ah
電池自由跌落試驗機 DMS-9985 ≤5Ah 5-10（包含）Ah
10-20（包含）Ah
電池擠壓試驗機 DMS-9981 ≤5Ah 5-10（包含）Ah
10-20（包含）Ah
電池重物衝擊試驗機 DMS-Z9983 ≤5Ah 5-10（包含）Ah
10-20（包含）Ah
電池燃燒拋射試驗機 DMS-9986 ≤5Ah 5-10（包含）Ah
10-20（包含）Ah
電池洗滌試驗機 DMS-XD ≤5Ah 5-10（包含）Ah
10-20（包含）Ah
電池針刺試驗機 DMS-9982 ≤5Ah 5-10（包含）Ah
10-20（包含）Ah
靜電放電模擬器 ESS-B3011/GT-30R ≤5Ah 5-10（包含）Ah
10-20（包含）Ah
熱電
熱電測試系統 Linseis，LSR-3 電阻率Seebeck係數綜合物性測量系統
磁場可到14T，溫度最低可達50mK。
PPMS QuantumDesign， 材料物性測試色譜
凝膠滲透色譜儀 WatersE2695 四氫呋喃測試溫度：30°C 高溫凝膠滲透色譜儀 PL-GPC220 三氯苯測試溫度：150°C 圓偏振螢光光譜儀 JASCOCPL-300 CPL 氣相色譜質譜聯用儀（GCMS） Trace1300ISQ 氣相色譜質譜其他
壓汞儀 麥克AutoPoreIV9500 固體 粉末橢偏儀 美國J.A.Woollam公司VB-400 薄膜厚度 折射率
消光係數測試 熱電測試系統 Linseis，LSR-3 電阻率Seebeck係數
綜合物性測量系統
磁場可到14T，溫度最低可達50mK。
PPMS QuantumDesign， 材料物性測試色譜
凝膠滲透色譜儀 WatersE2695 四氫呋喃測試溫度：30°C 高溫凝膠滲透色譜儀 PL-GPC220 三氯苯測試溫度：150°C 圓偏振螢光光譜儀 JASCOCPL-300 CPL 氣相色譜質譜聯用儀（GCMS） Trace1300ISQ 氣相色譜質譜其他
壓汞儀 麥克AutoPoreIV9500 固體 粉末橢偏儀 美國J.A.Woollam公司VB-400 薄膜厚度 折射率
消光係數測試