新生兒缺氧缺鐵性腦病檢查

新生兒缺氧缺血腦病是指圍產期缺氧缺血所致的腦損傷,是導致新生兒死亡和發生後遺症的重要原因之一。由於新生兒腦發育未成熟,代償能力較差,易受到各種因素的損傷,尤其是缺氧缺血等因素。引起新生兒缺氧或/和缺血的各種疾病都可能是HIE的病因,其中圍產期窒息最為常見,在HIE病因中產前和產時窒息分別占50%和40%,出生後的原因約占10%。

引起缺氧的病因有;圍產期窒息、反復呼吸暫停、各種嚴重呼吸道疾病等。缺血的病因有:心跳呼吸驟停、大量失血、休克、重度心力衰竭等。

新生兒缺氧缺血性腦病檢查

(一)頭顱超聲檢查

可發現腦室變窄或消失,提示腦水腫;腦室周圍尤其多見於側腦室外角後方,有高回聲區,多系腦室周圍白質軟化、水腫引起;在局灶或廣泛的腦實質缺血區域可見到局部或散在的高回聲區。

(二)腦電圖

可出現異常棘波,有助於臨床確定腦病變嚴重程度,判斷預後和對驚厥的鑒別。

(三)磁共振成像

有助於某些超聲及CT不能檢測出的部位如大腦皮層矢狀旁區,丘腦、基底結節梗死等的診斷。

(四)血生化檢測

血清磷酸肌酸激酶腦型同工酶的活性顯著增高是早期診斷指標之一,可説明確定腦組織損傷程度和判斷預後。