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彭博社:為了讓 iPhone X 更容易生產,蘋果降低 Face ID 元件規格

從最近的媒體報導來看, 即將發售的 iPhone X 遇到了生產問題, 原因主要出在新的 3D 感應器上。 據 彭博社報導, 蘋果目前已經降低了其面部識別模組 Face ID 的製造規格,

以便讓供應商更快地生產 iPhone X。

這一針對生產準確性降低的標準, 估計出現在上個月 iPhone X 發佈的時候, 不過彭博社在報導時用的是“early fall(秋天早些時候)”, 沒有提及明確時間。

蘋果在 9 月 12 日的發佈會上公佈了 iPhone X 的新解鎖與認證技術 Face ID, 用來取代指紋識別 Touch ID。 Face ID 的準確性為 1000000:1, 優於 Touch ID 的 50000:1。 若是降低一定標準的話, 蘋果仍然可以在介紹時說 Face ID 比 Touch ID 更精准、更保險。

據瞭解, Face ID 模組的生產難點在於其掃描 3 萬個面部識別點的元件, 這也是 iPhone X 的核心量產問題所在。 如果在降低生產標準的同時, iPhone X 的相關功能還沒受到太太影響, 那這對於蘋果來說是一個好消息。 有報導稱蘋果今年只能拿出原生產計畫數量一半的 iPhone X, 這或許會導致消費者在發售初期難以買到這部新手機。

本文 彭博社:為了讓 iPhone X 更容易生產, 蘋果降低 Face ID 元件規格來自動點科技.

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